Simcenter T3STER

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T3STER

Simcenter T3STER

 

Simcenter T3STER(英文发音方式为 "Tris-ter")是一种先进的非破坏性瞬态热测试器,通过测试施工现场的元件,对封装半导体装置(二极管、双极型晶体管、功率场效应管、绝缘栅双极晶体管、电源指示灯)和多晶片装置进行热特性分析。其专有系统同时囊括了软件和硬件,其解决方案为半导体、运输、消费性电子产品和 LED 市场提供支持。

相比稳态方法而言,其测量真实热瞬态响应的效率明显高出很多。测量结果偏差最多为 ±0.01°C,而解算时间最多为 1 微秒,因而可以产生精确的热测量值。结构函数对响应进行后处理,将其绘图以显示封装特征在热流通道上的热阻值和电容量。此工具可以轻松觉察结构失效,例如芯片贴装缺陷,因此是可靠性分析中预处理和后处理应力失效检测的理想工具。测量结果可导出用于热模型校准,从而增强热设计工作的准确性。